|
基本概念
软件测试的策略途径
软件测试的发展历史
软件测试的原则
有关软件测试的著名论点和错误理解
测试管理
测试组织
回归测试
单元测试
单元测试——C++test方案
单元测试——Purify Plus方案
单元测试总论
单元测试——RTRT方案
单元测试——单元测试的原则
单元测试实践指导
单元测试——课前问题
单元测试——为什么做单元测试
可编程逻辑设计中的测试方法和可测试性设计\可测试性设计
VLSI数字系统可测性三要素
VLSI数字系统可测性度量
VLSI数字逻辑设计中的可测性设计规则介绍
可编程逻辑设计中的测试方法和可测试性设计\JTAG和BIST
用VHDL描述BIST内核
JTAG
BIST(内测试)
逻辑电路的测试
时序电路的测试
JTAG与BIST结合
JTAG用于FPGA的调试-ChipScope
可编程逻辑设计中的测试方法和可测试性设计\适合FPGA的测试方法和可测性设计
XilinxFPGA中边界扫描的使用实例
FPGA的测试方法和可测性设计的经验总结
白盒测试
路径测试法
覆盖率测试法
数据流测试
白盒测试
控制结构测试
黑盒测试
比较测试法
等价类测试 基于决策表的测试
黑盒测试
因果图法
黑盒测试中测试方法的选择
正交实验设计法(课程研发中)
错误推测法
功能图法(课程研发中)
边界值测试
集成测试
高频集成增殖方式
一次性集成
混合增殖式方式
增殖式集成
自顶向下的增殖方式
自底向上的增殖方式
集成测试的目的
联调和集成测试的区别
集成测试同单元测试、系统测试比的特点
系统测试
配置测试
可用性测试
强度测试
启动停止测试
系统测试基本概念
恢复性测试
安全性测试
压力测试
性能测试
可靠性测试
确认测试
确认测试基本概念
有效性测试
软件配置复查
Alpha和Beta测试
Web测试
Web测试介绍
用户界面测试
功能测试测试
接口测试
兼容性测试
负载压力测试
安全性测试
图形显示测试
超连接导航测试
面向对象软件测试
面向对象设计的测试
面向对象编程的测试
面向对象的单元测试
面向对象的集成测试
面向对象的测试用例设计
面向对象的系统测试
面向对象测试模型
面向对象分析的测试
特定环境及应用下的测试
实时系统的测试
客户服务器体系结构的测试
GUI测试
测试工具
测试及Jtest介绍
OptimizeIt性能测试工具应用指南
OptimizeIt使用简介
JUnit讲座
RATIONAL系列工具
PC-LINT
Jtest介绍
测试工具\功能测试工具
Robot及其相关工具应用指南
测试工具\嵌入式软件测试工具
LOGISCOPEC RULE CHECKER使用培训
测试工具\白盒测试工具
Rational Pure coverage
案例
案例——货币转换器
案例——SATM系统
案例——佣金问题
案例——土星牌挡风玻璃雨刷
案例——三角形问题
案例——NextDate函数
|